MarSurf WI 100 是一款功能强大的表面分析仪，用于表面的三维测量和分析- 非接触式、与材料无关且快速。
典型测量任务
粗糙度测量符合
ISO 4287 ISO 13565/ISO 25178
表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学）
轮廓和形状（2D、3D）
孔隙、颗粒分析
缺陷检测
最高的数据质量
我们最重要的标准之一是出色的精度、准确性、再现性和文档记录，保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务水平是提供可可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制的定量测量。
MarSurf WI 100 分辨率高达0.2 (nm) 垂直测量速度高达140 fps 测量原理白光干涉仪高功率LED（650 nm/白色）
其他xyz 方向碰撞检测电源100 - 240 V 表面参数ISO 4287、ISO 13565、ISO 25178
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我们产品的各种应用
机器制造
识别并量化粗糙度、几何形状和磨损量
电子系统和半导体
亚纳米元件测试，确保产品品质
医疗技术
生产和实验室中医疗表面的质量保证
材料科学
新产品表面功能特性优化
微系统技术
以纳米级精度测量最小部件的复杂表面几何形状
